表征各种涂层及膜材料的表面微观形貌及相态分布，用于水性聚合物胶体结构，成膜机理以及纳米材料、光子晶体、高分子发光材料、高分子结晶学、金属腐蚀等方面的研究。

DI nanoscopeIIIa

x y方向分辨率0.1nm,

 z 方向分辨率0.05nm。

提供SPM、AFM及TM AFM模式，

并配有热台和液体池。